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东莞市诺展电子仪器有限公司
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回收安捷伦N4373C光波元器件分析仪
N4373C 40/50/67 GHz 光波元器件分析仪
主要特性与技术指标
**频率响应精度
50 GHz 时，± 1.2 dB（典型值）
65 GHz 时，± 1.8 dB（典型值）
相对频率响应精度
50 GHz 时，± 0.8 dB（典型值）
65 GHz 时，± 1.3 dB（典型值）
本底噪声
50（65）GHz 时，O/E 测量的本底噪声为 -60（55）dB（A/W）
50（65）GHz 时，E/O 测量的本底噪声为 -64（59）dB（W/A）
描述
光波元器件分析仪软件版本 2.3
凭借高达 67 GHz 的调制频率范围和出色的精度，N4373C 可根据 IEEE 802.3ba 标准对传输系统的电光器件执行 S 参数测试，并且支持光载无线通信（RoF）以及在 60 GHz 频率范围内的航空航天与国防（A&D）应用。
通过使用 N4373C 测试电光器件的 S 参数，可实现**的上市速度，并使您集中精力开发高性能元器件。
通过使用快速、简单的测量设置，可自动执行耗时的电子校准步骤，并且使操作人员无需进行光校准，从而显著提高效率。
额外优势：
高达 67 GHz 的平衡测量能力（**薪）
利用外部光源输入在 1300 ～ 1600 nm 的全部波长范围内进行测试
1310 和 1550 nm 可选择的内部发射机，支持 IEEE 802.3ba 元器件测试
内置平均功率计可快速进行发射机功率测试
用户可选择的光发射机输出功率帮助您适应目标测试条件
测试速度比 86030A 快 10 倍以上，可提高生产率
关键特性
高**精度和相对精度测量提高了开发和生产过程的产量。以优异
精度和可重复性，测量结果可以在世界各地的测试位置进行比较。
可追踪的平衡测量高达50 GHz
高可靠性和快速上市的NIST可追溯的交钥匙解决方案
使用具有独特新校准过程的快速和容易的测量装置显著提高生产率导致更低
测试成本
用户选择波长测试的外部光源输入选项
跨N437 XB/C LCA系列的通用PNA和LCA用户接口
相同的LCA软件和跨N437 XB/C家族的远程控制简化了集成
相对频率响应不确定度
±0.8 dB @ 50 GHz（典型）
±1.3 dB @ 65 GHz（典型）
频率响应不确定度
±1.2 dB @ 50 GHz（典型）
±1.8 dB @ 65 GHz（典型）
噪声地板
- 60（55）dB（A/W）用于O/E测量@ 50（65）GHz
- 64（59）dB（W/A）用于E/O测量@ 50（65）GHz
典型相位不确定度±2.3°
发射机波长
1550 nm±20 nm
1310 nm±20 nm
1290至1610纳米的外部源输入
内置光功率计
用于快速功率验证
回收安捷伦N4373C光波元器件分析仪
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